与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()
A.单斜探头法
B.单直探头法
C.双斜探头前后串列法
D.分割式双直探头法
参考答案:
C
类别: 题库 | 2023-06-13
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与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()
A.单斜探头法
B.单直探头法
C.双斜探头前后串列法
D.分割式双直探头法
C
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